Topos One是一款身型小巧、测量迅速、高精度的相干扫描（白光）干涉仪，适合集成于精密光学、消费电子、半导体等先进制造产线，实现非接触式、快速、高分辨率、高精度的三维表面形貌测量。以超精密机床为例，Topos One可实现在机原位高分辨表面形貌测量，并获得与离线测量同样等级的精度，避免工件的二次装夹误差，极大提高加工效率与产品质量。
