Topos 100 基于白光干涉测量原理，是用于测量材料表面形貌最精确的技术之一，搭载先进扫描干涉技术与算法，实现优于皮米(pm)级表面测量精度，可轻松捕捉近原子尺度表面形貌细节。该机型适合在研发实验室、质量检验实验室以及生产环境中使用。

在半导体、光学、智能汽车、航空航天、医疗设备和新能源等先进制造领域拥有大跨度的应用场景。适用于对各类材料表界面进行形貌测量，包括光滑表面、粗糙表面、台阶，以及光栅和微透镜等复杂表面结构。兼具明场显微与超景深成像功能，可实现跨尺度、高动态范围缺陷检测。

仪器校准严格采用国际标准ISO25178产品几何技术规范(GPS)表面结构:区域法中的定义和规范。研发团队在表面测量学领域深耕十余年，与多个国家计量院以及领域内国际顶尖科研团队保持紧密合作，贡献于ISO25178标准的制定及完善。强大的可视化表面计量和分析功能，可计算二维轮廓和三维表面的粗糙度和纹理参数，包括ISO25178表面形貌参数、自由曲面、几何特征提取、2D轮廓、3D形貌、4D表面变化、透镜、厚度、台阶、壳体、颗粒等分析功能。